IEC 62373-ed.1.0

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

NORMA vydána dne 18.7.2006

Anglicky a francouzsky -
Elektronické PDF (2542.60 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Tištěné (2542.60 CZK)

Anglicky a francouzsky -

CD-ROM (2582.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC 62373-ed.1.0
Datum vydání normy: 18.7.2006
Počet stran: 27
Přibližná hmotnost: 81 g (0.18 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 62373-ed.1.0 :

Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) Fournit une procedure dessai pour la stabilite de temperature en polarisation (essai BT) des MOSFET (transistor a effet de champ metaloxyde-semiconducteurs)