Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS
NORMA vydána dne 8.3.2012
Označení normy: IEC 62047-9-ed.1.0/Cor.1
Poznámka: Oprava
Datum vydání normy: 8.3.2012
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC