IEC 62047-34-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer

NORMA vydána dne 5.4.2019

Anglicky -
Elektronické PDF (2537.50 CZK)

Anglicky -

Tištěné (2537.50 CZK)

Anglicky -

CD-ROM (2577.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC 62047-34-ed.1.0
Datum vydání normy: 5.4.2019
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 62047-34-ed.1.0 :

IEC 62047-34:2019 (E) describes test conditions and test methods of electric character, static performances and thermal performances for MEMS pressure-sensitive devices. This document applies to test for both open and closed loop piezoresistive MEMS pressure devices on wafer.