NORMSERVIS s.r.o.

IEC 61580-9-ed.1.0

Methods of measurement for waveguides - Part 9: Reflection coefficient at rectangular waveguide interfaces

NORMA vydána dne 3.7.1996

Anglicky a francouzsky -
Elektronické PDF (624.40 CZK)

Anglicky a francouzsky -
Tištěné (624.40 CZK)

Anglicky a francouzsky -
CD-ROM (663.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC 61580-9-ed.1.0
Datum vydání normy: 3.7.1996
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 61580-9-ed.1.0 :

Gives the means for determining the reflection coefficient at the junction of two similar rectanglular waveguides due to: differences in the wavguide internal dimensions, lateral displacement between the waveguide axes in either the H or E plane and angular misalignment between the waveguide axes. Indique les moyens de determiner le coefficient de reflexion a la jonction de deux guides dondes rectangulaires similaires du aux: differences dans les dimensions internes du guide, deplacement lateral entre les axes du guide dans le plan H ou le plan E et excentrage angulaire entre les axes du guide.