IEC 60759-ed.1.0

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

NORMA vydána dne 1.1.1983

Anglicky a francouzsky -
Elektronické PDF (9127.90 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Tištěné (9127.90 CZK)

Anglicky a francouzsky -

CD-ROM (9166.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC 60759-ed.1.0
Datum vydání normy: 1.1.1983
Počet stran: 97
Přibližná hmotnost: 322 g (0.71 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 60759-ed.1.0 :

Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Donne les methodes dessais normalises des spectrometres denergie X a semicteur constitues dun semicteur et de lelectronique de traitement du signal lies par une interface a un analyseur damplitude couple a un calculateur.