
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
NORMA vydána dne 1.1.1983
Designation standards: IEC 60759-ed.1.0
Publication date standards: 1.1.1983
The number of pages: 97
Approximate weight : 322 g (0.71 lbs)
Country: International technical standard
Kategorie: Technické normy IEC
Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Donne les methodes dessais normalises des spectrometres denergie X a semicteur constitues dun semicteur et de lelectronique de traitement du signal lies par une interface a un analyseur damplitude couple a un calculateur.