Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components

Informace o normě:

Označení normy: IEC 60749-35-ed.1.0
Datum vydání normy: 18.7.2006
Počet stran: 43
Přibližná hmotnost: 129 g (0.28 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 60749-35-ed.1.0 :

Defines the procedures for performing acoustic microscopy on plastic encapsulated electronic components. Provides a guide to the use of acoustic microscopy for detecting anomalies (delamination, cracks, mould-compound voids, etc.) reproducibly and non-destructively in plastic packages. La presente partie de la CEI 60749 definit les procedures pour realiser la microscopie acoustique pour composants electroniques a boitier plastique. Cette norme fournit un guide d utilisation de la microscopie acoustique pour detecter les anomalies (decollement interlaminaire, fissures, vides dans le compose de moulage) de maniere reproductible et non destructive dans des boitiers en plastique.