IEC 60749-27-ed.2.1+Amd.1-CSV

Annotation of standard text IEC 60749-27-ed.2.1+Amd.1-CSV :

IEC 60749-27:2006+A1:2012 Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative test method to the human body model ESD test method. The objective is to provide reliable, repeatable ESD test results so that accurate classifications can be performed. This test method is applicable to all semiconductor devices and is classified as destructive. This consolidated version consists of the second edition (2006) and its amendment 1 (2012). Therefore, no need to order amendment in addition to this publication. La CEI 60749-27:2006+A1:2012 Etablit une procedure normalisee pour les essais et les classements des dispositifs a semiconducteurs en fonction de leur sensibilite aux dommages ou a la degradation du fait de leur exposition a une decharge electrostatique (DES) sur un modele de machine (MM) defini. Elle peut etre utilisee comme une methode dessai en variante a la methode dessai de DES sur le modele du corps humain. Lobjectif est de fournir des resultats dessai de DES fiables et reproductibles de maniere a ce que des classifications precises puissent etre realisees. Cette methode dessai est applicable a tous les dispositifs a semiconducteurs et elle est classee destructive. Cette version consolidee comprend la deuxieme edition (2006) et son amendement 1 (2012). Il nest donc pas necessaire de commander lamendement avec cette publication.