IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1

Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

NORMA vydána dne 12.8.2003

Anglicky a francouzsky -
Elektronické PDF (32.40 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Tištěné (32.40 CZK)

Anglicky a francouzsky -

CD-ROM (73.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1
Poznámka: Oprava
Datum vydání normy: 12.8.2003
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 60749-2-ed.1.0/Cor.1 :

Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validite : fixee maintenant a 2007.