IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength

NORMA vydána dne 28.7.2010

Španělsky -
Elektronické PDF (317.00 CZK)

Španělsky -

Tištěné (317.00 CZK)

Španělsky -

CD-ROM (356.70 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (317.00 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Tištěné (317.00 CZK)

Anglicky a francouzsky -

CD-ROM (356.70 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: IEC 60749-19-ed.1.0/Amd.1
Note: Změna
Publication date standards: 28.7.2010
The number of pages: 4
Approximate weight : 12 g (0.03 lbs)
Country: International technical standard
Kategorie: Technické normy IEC