IEC 60749-16-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

NORMA vydána dne 17.1.2003

Španělsky -
Elektronické PDF (619.00 CZK)

Španělsky -

Tištěné (619.00 CZK)

Španělsky -

CD-ROM (657.70 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (619.00 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Tištěné (619.00 CZK)

Anglicky a francouzsky -

CD-ROM (657.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC 60749-16-ed.1.0
Datum vydání normy: 17.1.2003
Počet stran: 13
Přibližná hmotnost: 39 g (0.09 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 60749-16-ed.1.0 :

Defines a test aiming at detecting the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills). Definit un essai permettant de detecter la presence de particules libres a linterieur dun dispositif a cavite, comme des particules de ceramique, des elements de fil de liaison ou des boules de brasure (granules).