
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
NORMA vydána dne 12.8.2003
Označení normy: IEC 60749-1-ed.1.0/Cor.1
Poznámka: Oprava
Datum vydání normy: 12.8.2003
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validite : fixee maintenant a 2007.