
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
NORMA vydána dne 30.8.2002
Označení normy: IEC 60749-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 30.8.2002
Počet stran: 15
Přibližná hmotnost: 45 g (0.10 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres)et etablit des dispositions communes a toutes les autres parties de la serie. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.