IEC 60748-11-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11-1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

NORMA vydána dne 1.4.1992

Rusky -
Elektronické PDF (7907.40 CZK)

Rusky -

Tištěné (7907.40 CZK)

Rusky -

CD-ROM (7946.90 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (7907.40 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Tištěné (7907.40 CZK)

Anglicky a francouzsky -

CD-ROM (7946.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC 60748-11-1-ed.1.0
Datum vydání normy: 1.4.1992
Počet stran: 71
Přibližná hmotnost: 213 g (0.47 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 60748-11-1-ed.1.0 :

The purpose of these tests is to check the internal materials, construction and workmanship of integrated circuits for compliance with the requirements of the applicable specification. Le but de ces essais est de verifier la conformite aux exigences de la specification applicable des materiaux internes utilises, de la fabrication et de lassemblage des circuits integres.