IEC 60444-2-ed.1.0

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units

NORMA vydána dne 1.1.1980

Rusky -
Elektronické PDF (1265.20 CZK)

Rusky -

Tištěné (1265.20 CZK)

Rusky -

CD-ROM (1304.70 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Elektronické PDF (1265.20 CZK)

Anglicky a francouzsky -

Tištěné (1265.20 CZK)

Anglicky a francouzsky -

CD-ROM (1304.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: IEC 60444-2-ed.1.0
Datum vydání normy: 1.1.1980
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Mezinárodní technická norma
Kategorie: Technické normy IEC

Anotace textu normy IEC 60444-2-ed.1.0 :

Describes a method of measuring the motional capacitance of quartz crystal units in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5%. Decrit une methode de mesure de la capacite dynamique des quartz dans une gamme de frequences de 1 MHz a 125 MHz avec une erreur totale de mesure de lordre de 5%.