GOST 26239.5-84

Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination

NORMA vydána dne 1.1.1986

Rusky -
Elektronické PDF (1819.80 CZK)

Rusky -

Tištěné (1819.80 CZK)

Anglicky a rusky -

Elektronické PDF (8967.50 CZK)

Anglicky a rusky -

Tištěné (8967.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GOST 26239.5-84
Datum vydání normy: 1.1.1986
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Ruská technická norma
Kategorie: Technické normy GOST

Anotace textu normy GOST 26239.5-84 :

Implemented changes and corrections:
Amd. 10.90