NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 8759-1988

Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method

NORMA vydána dne 1.1.1988

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Anglicky a čínsky -
Tištěné (NA DOTAZ)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 8759-1988
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1988
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB