NORMSERVIS s.r.o.

GB/T 6624-2009

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (3802.50 CZK)

Anglicky a čínsky -
Tištěné (3802.50 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 6624-2009
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB