GB/T 6624-1995

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection

NORMA vydána dne 18.4.1995

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (5190.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 6624-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 18.4.1995
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB