GB/T 6621-2009

Testing methods for surface flatness of silicon slices

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (3547.30 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 6621-2009
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB