GB/T 6620-2009

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (5844.20 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 6620-2009
Publication date standards: 30.10.2009
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB