GB/T 6620-2009

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (5715.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 6620-2009
Datum vydání normy: 30.10.2009
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB