GB/T 6620-1995

Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning

NORMA vydána dne 18.4.1995

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (7361.80 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 6620-1995
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 18.4.1995
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB