GB/T 6617-1995

Test method for measuring resistivity of silicon wafers using spreading resistance probe

NORMA vydána dne 18.4.1995

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (8417.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 6617-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 18.4.1995
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB