GB/T 6616-2023

Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge

NORMA vydána dne 6.8.2023

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (6979.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 6616-2023
Datum vydání normy: 6.8.2023
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB