GB/T 6616-2009

Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge

NORMA vydána dne 30.10.2009

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (8417.20 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (8417.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 6616-2009
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.10.2009
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB