GB/T 6616-1995

Test method for measuring resistivity of semiconductor silicon or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gage

NORMA vydána dne 18.4.1995

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (7361.80 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (7361.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 6616-1995
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 18.4.1995
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB