GB/T 4937.44-2025

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

NORMA vydána dne 2.12.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (9511.90 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (9511.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 4937.44-2025
Datum vydání normy: 2.12.2025
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB