GB/T 4937.41-2026

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41Test method for reliability of non-volatile memory devices

NORMA vydána dne 27.2.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (9511.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 4937.41-2026
Datum vydání normy: 27.2.2026
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB