GB/T 4937.41-2026

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41Test method for reliability of non-volatile memory devices

NORMA vydána dne 27.2.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (9533.00 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (9533.00 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 4937.41-2026
Note: K dispozici od: září 2026
Publication date standards: 27.2.2026
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB