
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
NORMA vydána dne 5.11.2012
Označení normy: GB/T 4937.4-2012
Datum vydání normy: 5.11.2012
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB