
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 32:Flammability of platic-encapsulated devicesexternally induced
NORMA vydána dne 23.5.2023
Označení normy: GB/T 4937.32-2023
Datum vydání normy: 23.5.2023
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB