
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devicesinternally induced
NORMA vydána dne 23.5.2023
Označení normy: GB/T 4937.31-2023
Datum vydání normy: 23.5.2023
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB