
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
NORMA vydána dne 17.9.2018
Označení normy: GB/T 4937.30-2018
Datum vydání normy: 17.9.2018
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB