GB/T 4937.29-2025

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 29: Latch-up test

NORMA vydána dne 2.12.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (13581.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 4937.29-2025
Datum vydání normy: 2.12.2025
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB