
Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Charged device model (CDM)—device level
NORMA vydána dne 27.2.2026
Označení normy: GB/T 4937.28-2026
Datum vydání normy: 27.2.2026
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB