GB/T 48168-2026

Semiconductor devices—Reliability test method by inductive load switching stress for gallium nitride(GaN) transistors

NORMA vydána dne 28.8.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 48168-2026
Note: K dispozici od: březen 2027
Publication date standards: 28.8.2026
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB