
Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
NORMA vydána dne 27.2.2026
Označení normy: GB/T 47239.9-2026
Datum vydání normy: 27.2.2026
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB