
Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8: Test method for stretchability, flexibility and stability of flexible resistive memory
NORMA vydána dne 27.2.2026
Označení normy: GB/T 47239.8-2026
Datum vydání normy: 27.2.2026
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB