
Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates
NORMA vydána dne 28.8.2026
Označení normy: GB/T 47239.1-2026
Poznámka: K dispozici od: březen 2027
Datum vydání normy: 28.8.2026
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB