GB/T 47082-2026

Test method for stacking faults of polished monocrystalline silicon carbide wafers

NORMA vydána dne 28.1.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (4043.20 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 47082-2026
Note: K dispozici od: srpen 2026
Publication date standards: 28.1.2026
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB