GB/T 47082-2026

Test method for stacking faults of polished monocrystalline silicon carbide wafers

NORMA vydána dne 28.1.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (3941.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 47082-2026
Datum vydání normy: 28.1.2026
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB