GB/T 47073-2026

Surface chemical analysis—Depth profiling—Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering

NORMA vydána dne 28.1.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (18123.40 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (18123.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 47073-2026
Datum vydání normy: 28.1.2026
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB