GB/T 45770-2025

Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement

NORMA vydána dne 30.6.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (13187.10 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (13187.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 45770-2025
Datum vydání normy: 30.6.2025
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB