GB/T 45721.1-2025

Semiconductor devices—Stress migration test—Part 1: Copper stress migration test

NORMA vydána dne 30.5.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (13972.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 45721.1-2025
Datum vydání normy: 30.5.2025
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB