GB/T 45720-2025

Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films

NORMA vydána dne 30.5.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (11878.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 45720-2025
Datum vydání normy: 30.5.2025
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB