GB/T 45718-2025

Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

NORMA vydána dne 30.5.2025

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (9481.30 CZK)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 45718-2025
Publication date standards: 30.5.2025
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB