GB/T 45716.1-2026

Semiconductor devices—Bias-temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)—Part 1: Fast bias-temperature instability test for MOSFETs

NORMA vydána dne 30.4.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (NA DOTAZ)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 45716.1-2026
Note: K dispozici od: listopad 2026
Publication date standards: 30.4.2026
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB