GB/T 45716.1-2026

Semiconductor devices—Bias-temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)—Part 1: Fast bias-temperature instability test for MOSFETs

NORMA vydána dne 30.4.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (11617.20 CZK)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (11617.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 45716.1-2026
Datum vydání normy: 30.4.2026
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB