GB/T 43313-2023

Test method for surface quality and micropipe density of polished silicon carbide wafers—Confocal and differential interferometry optics

NORMA vydána dne 27.11.2023

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (5257.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 43313-2023
Datum vydání normy: 27.11.2023
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB