GB/T 42709.8-2026

Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films

NORMA vydána dne 30.7.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (NA DOTAZ)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 42709.8-2026
Note: K dispozici od: únor 2027
Publication date standards: 30.7.2026
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB