GB/T 42709.35-2026

Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices

NORMA vydána dne 30.7.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (NA DOTAZ)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 42709.35-2026
Note: K dispozici od: únor 2027
Publication date standards: 30.7.2026
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB