GB/T 42709.29-2026

Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 29: Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin films under room temperature

NORMA vydána dne 28.8.2026

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (NA DOTAZ)

Anglicky a čínsky -

Tištěné (NA DOTAZ)

The information about the standard:

Designation standards: GB/T 42709.29-2026
Note: K dispozici od: březen 2027
Publication date standards: 28.8.2026
Country: Chinese technical standard
Kategorie: Technické normy GB