GB/T 41751-2022

Test method for radius of curvature of crystal plane in GaN single crystal substrate wafers

NORMA vydána dne 12.10.2022

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (4685.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 41751-2022
Datum vydání normy: 12.10.2022
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB