GB/T 40279-2021

Test method for thickness of films on silicon wafer surface—Optical reflection method

NORMA vydána dne 20.8.2021

Anglicky a čínsky -
Elektronické PDF (4943.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: GB/T 40279-2021
Datum vydání normy: 20.8.2021
Země: Čínská technická norma
Kategorie: Technické normy GB